NI 半導体技術フォーラム2024
概要
デジタルトランスフォーメーションが進み、新しいアプリケーションに伴う半導体技術の進化が顕著な昨今、半導体業界はかつてない成長の機会に直面しています。ものづくりに携わるエンジニアの皆様は、より良い未来を築くための重要な原動力であり、新たなテスト課題に直面していることを私たちは理解しています。
本フォーラムは、最新の無線通信評価及びICミックスドシグナルテストにおいて、実際のラボ環境や量産技術開発への応用について理解を深める絶好の機会です。 セミナー会場では、専門のエンジニアがプレゼンテーションと実機デモを通じて皆様のご質問やご相談にお答えします。
座席数に限りがありますので、お早めにお申込みをご検討ください。皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。
▼開催概要
開催日時:2024年7月26日(金) 13時~受付開始
開催場所:オフィス東京(東京都中央区京橋1-6-8コルマ京橋ビル3階)
【無料】事前登録制(学生や個人事業主、同業者のご登録をご遠慮いただいております)
▼参加対象者
・無線通信チップやフロントエンドモジュールの評価、および集積回路におけるミックスドシグナルテストに関わる研究/評価/生産技術エンジニア。
・同テスト領域における品質の向上、テスト工程の自動化や標準化、またコストの最適化に課題を感じている方。
▼セッション概要
【 基調講演 – 両プログラム共通 】
1.最新ソフトウェアツール、測定手法を用いたテスト工程最適化 ~ラボの効率的運用/量産現場でのAIの活用環境~
本プレゼンテーションでは、テスト環境を構築する際のツール選びがもたらす効果に着眼し、最新のソフトウェア及び測定手法を採用することにより得られる異なる成果について一緒に探求します。製品開発における効果効率を最大化するための戦略的なツール選びと結果について掘り下げて紹介します。
2.ラボの効率的運用
ラボにおける検査の効率化及びデータマネージメントによる解析時間の短縮など、ラボ運用においてNI SystemLinkソフトウェアがどのように標準化に貢献出来るかを紹介します。
3.量産現場でのAI活用環境
量産現場でエッジサーバーを使用しAIを実装することでより多くの問題解決に繋がります。AutoMLを使用したリアルタイム処理を通して、End-to-Endソリューションの例を紹介します。
【 各種プログラム 】
無線通信評価プログラム |
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1.6G構想を実現するためのテスト 進化する無線通信規格(5G/B5G、6G)の機能とその未来に向けてNIが取り組む試験、試作ソリューションに触れるプレゼンテーションとなります。ICのソフトウェア及びシステムを対象に、設計/試作/評価フェーズにおける具体的な手法について、NIならではの視点で案内します。 |
2.Wi-FiとBluetooth開発の展望 Wi-Fi及びBluetoothの通信規格は、今後も多くの人や機器を繋ぐための高い信頼性とスループットが求められ進化し続けることが予想されます。このセッションでは、Wi-Fi 8を含むワイヤレス・コネクティビティにおける今後の展開と、NIが次世代のワイヤレス通信の実現をどのように支援しているかを紹介します。その上で測定器の選定において留意すべき重要な指標について説明します。 |
3.NI最新製品を用いた無線通信向け自動テストプラットフォーム 半導体デバイスメーカーは、市場投入までの時間とコストを削減しなければならないというプレッシャーに常に直面していますが、部門/組織間の壁やサイロ化した知識や経験により、製品開発工程における同一問題の特定に高いコストを強いられています。PXIプラットフォームで構築された半導体自動測定装置は、従来と比較して装置コストを大幅に削減できるだけでなく、テストシステムに最先端の無線測定機能を実装する利便性をもたらします。 本セッションでは最新の無線テスト機能に加え、優れたデバッグ機能を用いた開発スピード向上を実現するPXIプラットフォームによる半導体自動測定装置の紹介を行います。 |
ミックスド・シグナルテストプログラム |
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1.拡張性に富んだ
高速PMICテストシステムの構築 次世代パワーマネージメントIC(PMIC)の開発工程において、それぞれの開発段階におけるモジュール性、拡張性、高スループットの重要性に触れながらハードウェアおよびソフトウェアソリューションを紹介します。5Wから300Wまでの幅広いパワー・ソリューションを紹介し、最新のテスト環境をPMIC評価に統合する方法に焦点を当てます。 |
2.DFT評価とデジタルプロトコルの検証を簡素化する革新的な測定器 DFT評価のためのATEグレードのデジタルパターンテストをポータブルベンチフォームファクターに組み込み、また同じハードウェアをデジタルプロトコルのコンプライアンステストにも使用できる革新的な測定器をご紹介します。デジタルプロトコルの検証は、特にMIPI I3Cのような新しいプロトコルが増加する中、デバイスがシステム内で正しく通信していることを確認する難しい作業です。 |
3.既製ソフトウェアの活用で
データ・コンバータの測定を高速化 データ・コンバータ(AD/DA)のテストには、膨大な信号試験の統合が必要です。PXIプラットフォームは、このような複雑な要求に対して評価エンジニアによる迅速なテスタ構築と実行を可能にします。もちろん市販ツールや既存のサンプルコードを流用したダイナミック測定やプロトコル評価用のデータ集録も実現できます。本セッションでは、測定器とソフトウェアの要件を統一のプラットフォームに集約することで、評価ベンチの構築を簡素化する方法をご紹介します。 |
開催日程
申し込み期間
- 2024/06/17 12:00 - 2024/07/25 19:00
キャンセル期間
- 2024/06/17 12:00 - 2024/07/25 19:00
次回の開催までおまちください。