2025年7月23日(水)9時 ～ 7月29日(火)17時

約60分

1. 半導体パラメータ・アナライザを使用した電気特性評価を基礎から学ぶ

導体パラメータ・アナライザは、高感度の電流/電圧測定、インピーダンス測定(CV測定)、超速IV測定（パルス測定)が1台で簡単、正確に実現できる測定器として、半導体デバイス、材料、電子部品など様々なデバイスの電気特性評価に活用されています。本セミナでは、半導体パラメータ・アナライザを使用する際に知っておくべき基本知識や被測定物との配線を含む測定時の注意点を解説いたします。これから電気特性評価を始める方に最適なセミナです。

 【アジェンダ】

　・半導体パラメータ・アナライザの概要

　・半導体パラメータ・アナライザの主な測定機能

　・半導体パラメータ・アナライザの各種(DC IV,インピーダンス、超速IV)測定の解説

　・半導体パラメータ・アナライザを使用し最適な測定を実現するための注意点

約30分

2. 半導体パラメータ・アナライザの特性評価における様々な課題と対策

半導体をはじめとした電子材料やデバイスの電気的特性評価に広く使われている半導体パラメータ・アナライザは、従来の高精度DC IV測定から容量測定、超速パルス測定まで幅広い測定機能を持ち、多種多様な測定要求に対応していますが、同時に多くの測定課題も生まれています。本セッションでは、それらのいくつかの測定課題を示し、克服するためのソリューションをご紹介いたします。 半導体パラメータ・アナライザを既にお使いの方で、さらに実践的な測定に興味のある方にもおすすめです。

 【アジェンダ】

　・半導体パラメータ・アナライザの概要

・半導体パラメータ・アナライザの歴史

・最新半導体パラメータ・アナライザの機能

・多様化する測定要求

・IV測定における発振問題と対策

　「最大負荷容量」「最大ガード容量」「最大シールド容量」

　フラットパネルディスプレイ素子（TFT）／スイッチングマトリクスを介したMOSFET／プローバーチャック上のバックゲート構造を持つナノFET